許康[中國科學院上海冶金研究所研究員]

許康,男,1933年5月出生,上海崇明人。研究員。畢業於北京鋼鐵學院。任職於中國科學院上海冶金研究所。中國電子學會(CIE)高級會員,CIE可靠性與質量管理(R&QC)學會委員,中國半導體器件標準化委員會積體電路(IC)分會委員。

主要業績

:前期主要研究“黑色冶金和III-V族半導體材料及器件”,對解決我國土鐵煉鋼、GaAs等化合物半導體的物性測試以及我國第一次實驗性雷射通信等作出了貢獻;後期從事IC研究、開發和可靠性物理及相關產品的標準化、質量控制和可靠性保證等方面的課題。

成就

為建立我國第一條IC生產線(從而為國產第一台每秒運算100萬和500萬次電子計算機一655機和905工程乙機的誕生)、發展我國IC特別是高性能矽柵CMOSIC和可靠性物理等方面作出了一定貢獻。先後獲中科院和上海市重大科技進步二、三等獎多次,其中包括“MOSLSI的本徵吸雜”、“高速CMOS邏輯系列74HC的設計與工藝”、“先進高性能CMOS邏輯系列74AC的研製和品種開發”等。代表性著作有《熱風鹼性化鐵爐的理論與實踐》(1960)、《積體電路可靠性》(1972)、《可靠性物理》(1988合著)、《矽器件可靠性》(1991)合著,見《電子工業生產技術手冊矽器件篇》)等;主要譯著(均與人合著)有《真空煉鋼》(1958)、《半導體材料砷化鎵》(1963)、《半導體器件的可靠性》(1974)等;發表論文近百篇,主要有《新型高速CMOS邏輯系列74AC之研究》、《矽襯底中缺陷的控制和利用》、《WSi0.6柵GaAs MES FET的氧化失效機理》、《通用邏輯電路系列新進展》、《可靠性物理研究套用30年》等,後2篇獲CIE優秀論文獎。享受國務院頒發政府特殊津貼。

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